不受材料和形状影响的精确扫描

  • 精确测量陡坡和倾斜表面
  • 一流的XY分辨率确保捕捉到最小的特征
  • 透明或高反射表面上无数据丢失

高分辨率彩色观察捕捉逼真的图像

  • 材料纹理、形状和其他表面条件清楚显示
  • 彩色图像可以立即确定测量位置
  • 高达28800倍的高倍率成像提供了额外的分析功能

292种不同的测量工具允许进行无与伦比的表面分析

一个系统支持从轮廓测量到粗糙度表征的多种分析

测量平坦和不平的表面

毫米，微米，在一个设备中进行纳米测量

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