光谱干涉位移传感器

利用KEYENCE的光谱干涉位移传感器,可以以纳米级分辨率测量绝对距离。这些专用传感器有时被称为光谱干涉仪,用于在各种行业中精确测量距离、位置和厚度。

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阵容

SI-F系列微头光谱干涉激光位移计

介绍世界上第一个微型头,具有同类产品中最高的测量精度和以前认为不可能达到的性能水平。

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SI-F80R系列-光谱干涉晶圆厚度计

通过采用近红外SLD,即使贴上BG胶带,也可以单独测量晶圆的厚度。即使晶圆表面存在强烈的基于图案的变化,也可以进行精确的在线测量。

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