| 行业 |
半导体、LCD行业 |
| 应用程序 |
玻璃厚度测量 |
| 模型采用 |
LK-G5000系列查看目录 |
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客户
证明
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我们曾经表演过188.博金宝
玻璃的使用激光位移传感器从另一个公司。跟踪错误发生在图案表面，我们似乎不能改善检查周期时间。使用KEYENCE公司的LK系列激光位移传感器，我们能够消除跟踪误差，提高检测周期时间。
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日本基恩士
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感谢您使用KEYENCE产品。
跟踪误差的产生是由于玻璃表面和一些图案表面的反射率不同。LK系列激光位移传感器提供了发射时间和发射功率的高速控制，因此接收到的光不断优化的表面。这使得最小化跟踪错误的影响成为可能。
| 行业 |
电子电气行业 |
| 应用程序 |
多层膜的膜厚测量 |
| 模型采用 |
SI-F系列查看目录 |
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客户
证明
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之前，我们用x射线薄膜测厚仪测量透明多层薄膜的厚度。由于测量面积大，我们无法处理各种厚度的精细薄膜。使用KEYENCE的光谱干涉激光位移传感器，我们能够测量甚至非常精细的薄膜厚度，这使我们能够优化控制放电流量、压力以及进给速度。
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日本基恩士
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感谢您使用KEYENCE产品。
SI系列光谱干涉激光位移传感器，厚度测量用一个只有30µm的小光斑进行。这使得精确的测量一直到边缘。SI系列是检测绕组形状缺陷和防止卷边的有效工具。
| 行业 |
半导体、LCD行业 |
| 应用程序 |
晶圆片厚度测量 |
| 模型采用 |
SI-R系列查看目录 |
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客户
证明
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采用接触式传感器测量晶圆厚度。这些器件有时会破坏晶圆或造成划痕等其他问题。出于这个原因，我们正在考虑非接触式测量系统。有了KEYENCE的SI-R系列，我们再也不用担心会损坏晶圆。由于传感器头很小，所以我们可以将该设备安装到我们的设备中，以持续监测晶圆厚度。
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日本基恩士
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感谢您使用KEYENCE产品。
Si - r系列光谱干涉激光位移传感器使用近红外SLD，能够通过半导体发射，包括Si, GaAs, SiC, InP和a-Si。这允许精确的晶圆厚度测量，即使附有BG带。
| 行业 |
食品行业 |
| 应用程序 |
未切面片的厚度测量 |
| 模型采用 |
LK-G5000系列查看目录 |
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客户
证明
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为了检查面条的厚度，我们用了手测千分尺。由于测量过程中的接触压力不同，我们的结果差异很大，尤其是对于软面条。使用KEYENCE公司的LK系列激光位移传感器，我们能够进行在线厚度测量。由于LK系列采用非接触式测量，我们能够解决操作人员误差的问题。
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日本基恩士
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感谢您使用KEYENCE产品。
我们的设备经常被用来测量面条的厚度。在面条生产过程中，面粉一直存在于空气中。然而，使用LK系列激光位移传感器，由于内置的中值滤波器可以抵消任何意外值，因此可以在不受面粉影响的情况下稳定测量。
| 行业 |
树脂及橡胶工业 |
| 应用程序 |
橡胶板厚度测量 |
| 模型采用 |
LK-G5000系列查看目录 |
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客户
证明
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我们以前使用传统的激光位移传感器在线测量橡胶板的厚度。但是传感器不能支持更严格的产品公差，所以我们尝试了KEYENC188bet在线E的LK系列激光位移传感器。LK系列处理了更严格的公差，帮助我们解决了我们的问题，测量变化，由于表面粗糙度。
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日本基恩士
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感谢您使用KEYENCE产品。
LK系列激光位移传感器提供了392 kHz的采样速度，是世界上最快的。在如此高的采样速度下，平均大量数据的能力允许稳定的厚度测量，甚至在线测量。
| 行业 |
运输/金属工业 |
| 应用程序 |
电机铁芯层积层厚度测量 |
| 模型采用 |
LK-G5000系列查看目录 |
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客户
证明
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对于层积电机铁芯，器件性能的变化取决于层积的数量。出于这个原因，我们首先检查指定的核心层数量是否已经设置。通过使用KEYENCE的LK系列激光位移传感器进行在线厚度测量，我们可以自动检测我们的产品。
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日本基恩士
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感谢您使用KEYENCE产品。
对于厚度测量，需要微米尺度的精度来确定芯数是否在规定的范围内。LK系列激光位移传感器采用光学设计，减少了表面粗糙度的影响，并利用专有组件实现高精度测量，无论目标。
| 行业 |
运输/金属工业 |
| 应用程序 |
玻璃板密封胶的厚度测量 |
| 模型采用 |
LJ-V系列查看目录 |
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客户
证明
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用摄像机检查玻璃板密封胶的应用情况。摄像机允许我们进行涂层裂缝检查，但我们也需要检查密封胶的倾斜度。为此，我们采用了KEYENCE公司的LJ系列2D激光位移传感器。将传感器头固定在分配器上，我们不仅可以查看涂层裂缝，还可以测量密封胶的厚度、宽度和横截面积。
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日本基恩士
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感谢您使用KEYENCE产品。
LJ系列2D激光位移传感器具有世界上最快的采样速度。甚至当控制一个分配器在高速，它是可能的测量间节距，从而防止密封故障。
