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高度/步骤

找到合适的高度/台阶测量方案

在寻找测量高度或台阶高度的最佳方法时,有许多重要的因素需要考虑,包括目标的形状、测量系统的类型和安装环境。如果选择的设备不能充分满足您的需求,可能会导致生产过程中的精度不足和工时增加,所以选择正确的设备是很重要的。本网站旨在帮助您找到有信心执行此测量的最佳方法。

如何测量高度/台阶

找到最佳测量方法和右侧设备以测量“高度/步骤”。

单点高程测量

示例应用:分配器高度测量

最佳测量系统

最佳测量系统1D激光位移传感器

为了有效地测量单点的高度,使用反射式激光位移传感器。

对激光入射位置的距离进行了高精度的测量。
关键点

您可以在多个位置测量高度,通过通信的多个传感器,或通过扫描目标与一个传感器。

高度/台阶高度从上面测量,使用两个测量位置相邻

示例应用:连接器端子高度测量

最佳测量系统

最佳测量系统2D激光位移传感器

在激光线击中的情况下获得表面的轮廓,使得可以获得诸如台阶高度的相对测量。

一个
测量点
B
C
参考点

测量测量点与参考点之间的高度差异。

关键点

即使目标倾斜,也可以准确测量步长,因为传感器头具有对准调节功能。

  • 2D三角测量方法。
    在线多点测量。
    世界上最快的采样速度,每秒64000张图像。

    LJ-X系列

    查看目录

  • 多色共焦方法
    线性:从±0.2μm
    共聚焦位移传感器

    CL系列

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高度/台阶高度测量从侧面使用两个测量位置相邻

示例应用:期刊之间的凸轮轴直径

最佳测量系统

最佳测量系统Thrubeam 2D光学测微仪

对目标轮廓进行投影,计算出两个指定特征之间的阶跃高度。

关键点

即使轴倾斜,也可以在利用取向调整特征时准确地测量步骤。测量不受目标表面的颜色的影响。

高度/步高度测量使用距离彼此远离的两个测量位置

示例应用:车辆高度测量

最佳测量系统

最佳测量系统1D激光位移传感器

为了有效地测量单点的高度,使用反射式激光位移传感器。

对激光入射位置的距离进行了高精度的测量。
关键点

您可以在多个位置测量高度,通过通信的多个传感器,或通过扫描目标与一个传感器。

高度测量期间的注意事项

传感器头部倾斜的影响

如果光轴不垂直于目标,则由角度θ引起的测量误差在高度值中发生,如图1所示。
如果θ大于0.8°,则测量误差约为0.01%,如果您对其效果致意,请提前校正倾斜。
你可以很容易地通过准备一个主工件和使用缩放设置来纠正倾斜。

(图1) A:光轴倾斜θ

透明物体和物体的镜面抛光表面

如果目标是具有镜面成品表面的透明对象或物体,则必须将传感器头倾斜,以一定的角度倾斜,该角度是与目标相对于目标相对于目标的半角,如图所示图2。
(使用三角测量方法时。)

此外,如果目标是透明物体,稳定测量的关键是要让透明物体至少有一定的厚度。如果物体很薄,由于透明物体背面反射的光的影响,前表面高度的测量值可能比它应该的低。
确保稳定测量的最小厚度限制取决于传感器头类型、目标的透明度和背面的反射率。

[图2] 答:α/ 2

步进测量注意事项

传感器头部倾斜的影响

如果2D激光位移传感器的光轴不垂直于目标,则在步骤值中由角θ引起的测量误差,如图3所示。
该步长所测量的两点之间的距离(X)越大,测量误差越大。
例如,即使倾斜θ仅为0.1°,当X = 30 mm时,测量误差约为50 μm。
因此,在进行步长测量时,通常使用倾斜校正功能。

[图3] A:光轴倾斜θ B:真正的一步 C:测量值 D:两点距离(X)

透明物体和物体的镜面抛光表面

如果在步骤测量中测量的至少一个表面是具有镜面成品表面的透明物体或物体,则将传感器头以一个角度倾斜,该角度倾斜,该角度是突出的和接收的光,α的一半的角度,α到目标,如图4所示。
还有必要准备一个专用于透明物体和具有镜面成品表面的物体的头部。

此外,如果目标是透明对象,则它必须至少与某个值一样厚,以便精确测量表面高度。
如果物体很薄,由于透明物体背面反射的光的影响,前表面高度的测量值可能比它应该的低。
确保稳定测量的最小厚度限制取决于传感器头类型、目标的透明度和背面的反射率。

[图4] 左:前 右:一边 A:透明/镜面抛光表面

哪种方法更好?联系VS非联系人

测量软目标

当探头接触到软目标时,会对目标进行压缩,从而产生相应的测量误差。
利用非接触式测量,可以测量变形的靶标和液体表面。

测量光目标

对于薄且浅光的目标,有必要按住目标,以确保它不会浮在气隙上,以便精确地测量表面高度。
通过接触测量,探针向下压制在目标表面上,从而消除了漂浮在空气中的目标引起的误差。因此,接触方法更适合于这种类型的测量而不是非接触方法。

测量压痕

使用非接触式激光位移传感器,测量点(大小从几微米到几百微米)通常比接触式测量所用的探头要小。这使得用非接触式方法精确测量更窄压痕的基高成为可能。

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