微头光谱干涉激光位移计
SI-F系列
微头光谱干涉激光位移计SI-F系列
特性
超高分辨率1nm
1 nm分辨率的光谱干涉法。
头部变化，扩大可能的测量范围
该系列产品包括超小、远程和其他专门的头部，以匹配各种应用。
消除测量误差的原因
测量头仅由光纤和透镜组成，没有电子部件。
停止
微头光谱干涉激光位移计
SI-F系列
1 nm分辨率的光谱干涉法。
该系列产品包括超小、远程和其他专门的头部，以匹配各种应用。
测量头仅由光纤和透镜组成，没有电子部件。