使用多个传感器头测量翘曲/平坦度 示例应用:底盘的平坦度测量 最佳测量系统 最佳测量系统激光位移传感器 通过在零件上的不同位置计算多个传感器头获得的高度差来测量翘曲和平坦度。 关键点 从移动到不同的测量位置时,由振动引起的测量误差不会发生。 因为传感器头未移动,所以检查周期时间快。 不需要移动传感器头的机制。 多色共焦法线性:从±0.2μm共聚焦位移传感器 CL系列 查看目录 光谱干扰法超高分辨率为1nm2 mm微处理传感器头 SI系列 查看目录
使用一个传感器头的翘曲/平坦度测量(1D激光位移传感器) 示例应用:PCB的翘曲测量 最佳测量系统 最佳测量系统激光位移传感器 必须移动目标或传感器,通过在每个测量位置收集的数据计算翘曲和平坦度。 关键点 只使用一个头,因此可以降低成本。 从传感器头移动时振动会导致测量误差。 需要一种用于移动传感器头的机构。 多色共焦法线性:从±0.2μm共聚焦位移传感器 CL系列 查看目录 光谱干扰法超高分辨率为1nm2 mm微处理传感器头 SI系列 查看目录
使用一个传感器头测量翘曲/平坦度(2D激光位移传感器) 示例应用:材料边缘的翘曲测量 最佳测量系统 最佳测量系统2D激光位移传感器 通过评估反射轮廓上的高度差异来测量激光线从目标表面反射。 一个 顶峰 B. 翘曲金额 C 底部 关键点 可以在不移动传感器头的情况下测量翘曲。 2D三角测量方法。在线多点测量。世界上64,000张图片/秒的最快采样率。 LJ-X系列 查看目录 多色共焦法线性:从±0.2μm共聚焦位移传感器 CL系列 查看目录