使用多个传感器头测量经线/平坦度 示例应用:底盘的平坦度量 最佳测量系统 最佳测量系统激光位移传感器 通过计算零件不同位置的多个传感器头获得的高度差来衡量。 关键点 没有发生从单个传感器头移至不同测量位置的振动引起的测量误差。 由于传感器头未移动,因此检查周期时间很快。 无需移动传感器头的机制。 多色共聚焦法线性:±0.2μm共聚焦位移传感器 CL系列 查看目录 光谱干扰法1 nm的超高分辨率2 mm微处理传感器头 SI系列 查看目录
使用一个传感器头(1D激光位移传感器)测量经线/平坦度 示例应用程序:PCB的经纱测量 最佳测量系统 最佳测量系统激光位移传感器 必须移动目标或传感器,经扭曲和平坦度是由每个测量位置收集的数据计算得出的。 关键点 仅使用一个头,因此可以降低成本。 移动传感器头的振动会导致测量误差。 需要一种移动传感器头的机制。 多色共聚焦法线性:±0.2μm共聚焦位移传感器 CL系列 查看目录 光谱干扰法1 nm的超高分辨率2 mm微处理传感器头 SI系列 查看目录
使用一个传感器头(2D激光位移传感器)测量经线/平坦度 示例应用程序:材料边缘的经线测量 最佳测量系统 最佳测量系统2D激光位移传感器 激光线从目标表面反射,通过评估反射曲线上的高度差异来测量经纱。 一种 顶峰 b 经线金额 C 底部 关键点 可以在不移动传感器头的情况下测量经线。 2D三角剖分方法。在线多点测量。世界上最快的采样率为64,000图像/秒。 LJ-X系列 查看目录 多色共聚焦法线性:±0.2μm共聚焦位移传感器 CL系列 查看目录