三维激光扫描共焦显微镜

VK-X系列

这种型号已经停产了。

计量单位VK-X160K

VK-X160K-测量单位

  • CE标志
  • 环孢素A

规格

模型

VK-X160K

总放大率

至19200年*1

视野(最小范围)

16µm至5400µm

帧速率

激光测量速度

4至120赫兹,7900赫兹*2

测量原理

光学系统

针孔共焦光学系统

光接收元件

16位光电倍增管

扫描方式(一般测量和图像拼接时)

自动上限/下限设置,高速光强度优化(AAGII),
不良反射光强度补充(双扫描)

高度测量

显示分辨率

5纳米

线性刻度

动态范围

16位

重复性σ

20×40纳米,50×20纳米,
100×20nm*3

Z轴测量用存储器

140万步

精确

0.2+L/100µm或更小(L=测量长度)*3

Z级配置

结构

带独立测量头的底座

最大样本高度

28毫米1.102",128毫米5.039"(可选)

宽度测量

显示分辨率

10纳米

重复性3σ

20×100nm,50×50nm,
100×30nm*3

精确

±2%*4

XY级结构

手动:工作范围

70mm×70mm2.76" × 2.76"

机动化:工作范围

50mm×50mm1.97" × 1.97"100mm×100mm3.94" × 3.94"*5

观察

观测图像

超高分辨率彩色CCD图像
16位激光彩色共焦图像
共焦+ND滤波光学系统
C激光差分干涉像

最大捕获分辨率

3072×2304

测量激光光源

波长

658nm红色半导体激光器

最大输出

0.95兆瓦

激光班

2类激光产品(IEC60825-1)

重量

显微镜装置

约25 kg(分离的传感器头:约8.5 kg)

控制器

约11公斤

*1用于23英寸显示器。
*2当使用测量模式/测量质量/镜头放大率组合时,以最高速度。当线扫描的测量间距在0.1µm以内时。
*3在20±2°C的环境温度下,使用20×或更大的透镜测量标准样品(标准刻度)时68±3.6华氏度但是,不适用于具有100×透镜的VK-X120/130。
*4在20±2°C的环境温度下,使用20×或更大的透镜测量标准样品(标准刻度)时68±3.6华氏度但是,不适用于具有100×透镜的VK-X120/130。
*5当安装了电动舞台时。

其他型号