
3 d表面分析器
VK-X3000系列
3 d表面分析器VK-X3000系列
VK-X3000三维表面轮廓仪采用激光共焦扫描、聚焦变化、白光干涉测量等三重扫描方式,可对任意目标进行高精度测量和分析。VK-X3000的分辨率为0.01 nm,可以扫描区域达50 x 50 mm(1.97“x 1.97”),允许测量目标的整体形状,同时仍然保持对微小表面特征分析的高分辨率。KEYENCE的新3D表面剖面仪可以处理任何目标,包括那些具有透明或镜像表面、高度变化大或角度陡峭的目标。
特性
光学性能分析基础知识
观察

广泛的放大范围,从光学显微镜到sem
- 放大倍数可达28800倍
- 自动聚焦
- 观察任何材料
测量

即时、非接触式表面扫描
- 没有目标的伤害
- 精确测量微小
- 适用于任何形状或材料
分析

前所未有的表面特征
- 甚至对最详细的形状进行量化
- 区分表面容易
- 粗糙度分析
精确扫描,不受材料和形状的影响

- 精确测量陡峭的斜坡和倾斜的表面
- 一流的XY分辨率可以确保捕获最小的特性
- 在透明或高反射表面上没有数据丢失
高分辨率彩色观察捕捉真实生活的图像

- 材料的纹理,形状和其他表面条件清楚显示
- 彩色图像可以立即确定测量的位置
- 高倍成像高达28,800倍提供额外的分析能力
292种不同的测量工具允许无与伦比的表面分析

一个系统可以进行从轮廓测量到粗糙度表征的多种分析。
测量平坦和不平坦的表面
毫米、微米和纳米在一个设备上测量。


