三维激光扫描共聚焦显微镜

VK-X系列

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三维激光扫描共聚焦显微镜VK-X系列

VK-X系列-三维激光扫描共聚焦显微镜

VK-X系列3D激光扫描共聚焦显微镜配有白光光源和激光光源。双光源可以捕捉目标表面的高分辨率高度数据,以及全彩图像。

特性

  • 16倍的测量面积
  • 快速三维测量
  • 完全自动化的测量

推荐

最新的技术

3-in-1表面分析器

VK-X3000系列- 3D表面轮廓仪

  • 在一个系统中测量纳米、微米和毫米
  • 三重扫描方法可以测量任何目标
  • 先进的粗糙度,膜厚,表面量化

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