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TM-X5000系列使用缺陷去除功能稳定测量

远心测量系统根据目标的轮廓对目标进行检测。在基于图像的测量中,缺陷和表面异常会导致误差。使用TM-X5000,缺陷可以被忽略或检测到每个输出,稳定测量结果。

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