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使用双头TM-X5000系统精确测量大目标直径

远心测量系统根据目标的轮廓来检测和测量目标。可以将两个磁头连接到一个控制器上,并在它们之间进行计算。这使得该系统能够精确测量比视场大得多的目标。

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